Phân tích Xrf huỳnh quang tia X di động
- Aolong
- Trung Quốc
- 15 ngày
- 300pc/năm
Sử dụng công nghệ phân tích Xrf huỳnh quang tia X di động, huỳnh quang tia X có khả năng đo đồng thời nhiều nguyên tố khác nhau trong chất. Xrf di động có thể được cấu hình để đo nhiều phần tử bất kỳ từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng. Phân tích xrf có thể được sử dụng rộng rãi trong bảo vệ môi trường, khảo cổ học, vật liệu xây dựng, chỉ thị RoHS và các ngành công nghiệp khác. Xrf di động là sự lựa chọn lý tưởng để kiểm soát chất lượng cho doanh nghiệp.
Nguyên tắc cơ bản của phân tích XRF
Thế năng quỹ đạo electron của các nguyên tố khác nhau là khác nhau. Do đó, năng lượng photon của tia X phát ra sau khi bị kích thích là khác nhau, tức là mỗi nguyên tố phát ra tia X với năng lượng riêng của nguyên tử của nguyên tố đó, biểu diễn các đặc tính của nguyên tố đó và do đó được gọi là tia X đặc trưng của nguyên tố đó. Tia X đặc trưng của mỗi nguyên tố có năng lượng riêng và tia X được phát hiện với năng lượng nhất định có thể xác định sự tồn tại của nguyên tố này trong mẫu vật liệu.
Nguyên lý làm việc huỳnh quang tia X di động
Tia X ban đầu được tạo ra bởi ống tia X và điện áp cao được chiếu lên mẫu sau khi được lọc bằng bộ lọc quang thích hợp. Tia X đặc trưng (gọi là huỳnh quang tia X) của các nguyên tố có trong mẫu được kích thích. Phổ huỳnh quang tia X thu được bằng cách sử dụng máy dò tia X có độ phân giải năng lượng cao. Các nguyên tố khác nhau tạo thành các đỉnh phổ khác nhau trên quang phổ. Cường độ của đỉnh phổ tỷ lệ thuận với hàm lượng các nguyên tố trong mẫu. Phổ năng lượng do máy dò phát hiện được phân tích bằng máy tính. Các loại nguyên tố có trong mẫu được phân tích định tính theo vị trí và hình dạng của đỉnh quang phổ.
Xrf di động được trang bị đầu dò Si(PIN) hoặc SDD.
Độ phân giải của máy dò là một trong những chỉ số chính để đánh giá hiệu suất của XRF di động.
Độ phân giải <145eV (Độ phân giải càng thấp thì độ nhạy càng cao.)
Tốc độ đếm>1000/giây
Vùng tinh thể>15mm2
Độ dày cửa sổ berili = 0,025mm
Công suất máy dò < 1,2W
Các thông số kỹ thuật
| Người mẫu | AL-NP-6010A | |
| Kích thước trọng lượng | 353mm(L)×233mm(w)×200mm(H) 7,68kg | |
| Nguyên lý Anylysis | Phân tích huỳnh quang tia X phân tán năng lượng di động | |
| Phạm vi đo phần tử | Bất kỳ phần tử nào từ Na(11)~U(92) | |
| Giới hạn đo tối thiểu | Cd/Hg/Br/Cr/Pb<2ppm | |
| Hình dạng mẫu | Kích thước tùy ý, bất kỳ hình dạng bất thường | |
| Loại mẫu | Nhựa/Kim loại/Phim/Power/Chất lỏng, v.v. | |
| ống tia X | Vật liệu mục tiêu | Mo |
| Điện áp ống | 5 ~ 50KV | |
| Dòng điện ống | 1 ~ 1000μA | |
| Đường kính tiếp xúc mẫu | 2,5,8mm | |
| Máy dò | Máy dò Si-Pin hoặc SDD, hệ thống phân tích độ cao xung tốc độ cao | |
| Máy phát điện cao áp | Máy phát HV đặc biệt cho huỳnh quang tia X | |
| ADC | 2048 kênh | |
| Phần mềm phân tích Xrf | Sản phẩm phần mềm được cấp bằng sáng chế, nâng cấp miễn phí trọn đời | |
| Phương pháp phân tích Xrf | Phương pháp hệ số α lý thuyết, phương pháp tham số cơ bản, phương pháp hệ số thực nghiệm | |
| Thời gian phân tích | 30 ~ 900 giây, có thể điều chỉnh | |
| Phần mềm hệ điều hành | WINDOWS XP | |
| Xử lí dữ liệu hệ thống | Chủ nhà | Máy tính xách tay |
| CPU | ≥2,8G | |
| Ký ức | ≥2g | |
| Ổ ĐĨA CD | 8×DVD | |
| Ổ đĩa cứng | ≥500G | |
| Trưng bày | Màn hình LCD 14" | |
| Môi trường làm việc | Nhiệt độ 10~35oC, độ ẩm 30~90% RH | |
Thuyết phục nhà cung cấp giải pháp kiểm tra
Hơn 50 năm, Tập đoàn Aolong tập trung vào thử nghiệm không phá hủy Công nghệ và mang đến cho khách hàng giải pháp kiểm tra tốt nhất với chất lượng cao thiết bị chụp X quang với thao tác đơn giản và đầy đủ chức năng.
Giấy chứng nhận Aolong
TÔIChứng chỉ hệ thống chất lượng quốc tế SO9000
TÔIChứng chỉ hệ thống môi trường quốc tế SO14001
DHSAS18001 Chứng chỉ hệ thống quản lý an toàn và sức khỏe nghề nghiệp quốc tế
CVà được chứng nhận
