Máy đo nhiễu xạ tia X kết hợp đa chức năng AL-Y3500

Áp dụng trong các lĩnh vực phân tích cấu trúc vật liệu. Các vật liệu có thể phân tích bao gồm: vật liệu kim loại, vật liệu vô cơ, vật liệu composite, vật liệu hữu cơ, vật liệu nano, vật liệu siêu dẫn; Trạng thái vật liệu bao gồm: mẫu bột, mẫu khối, mẫu màng mỏng và mẫu vết vi mô.

Được sử dụng rộng rãi trong các lĩnh vực nghiên cứu như khoáng sét, vật liệu xây dựng xi măng, bụi môi trường, sản phẩm hóa học, dược phẩm, amiăng, khoáng sản đá, polyme, v.v.

Tính năng của nhạc cụ:

● Sự kết hợp hoàn hảo giữa hệ thống phần cứng và phần mềm đáp ứng nhu cầu của các học giả và nhà nghiên cứu trong các lĩnh vực ứng dụng khác nhau

● Hệ thống đo góc nhiễu xạ có độ chính xác cao để thu được kết quả đo chính xác hơn

● Hệ thống điều khiển máy phát tia X có độ ổn định cao, đạt được độ chính xác đo lặp lại ổn định hơn

● Các phụ kiện chức năng khác nhau đáp ứng nhu cầu của các mục đích thử nghiệm khác nhau

● Hoạt động được lập trình, thiết kế cấu trúc tích hợp, vận hành dễ dàng và hình thức thiết bị thẩm mỹ hơn

● Xác định một hoặc nhiều pha trong các mẫu chưa biết

● Phân tích định lượng các pha đã biết trong các mẫu hỗn hợp

● Phân tích cấu trúc tinh thể (Phân tích cấu trúc Rietveld)

● Thay đổi cấu trúc tinh thể trong các điều kiện khác thường (điều kiện nhiệt độ cao và thấp)

● Phân tích mẫu màng, bao gồm pha màng, độ dày màng nhiều lớp, độ nhám bề mặt và mật độ điện tích

● Phân tích mẫu vi mô

● Phân tích kết cấu và ứng suất của vật liệu kim loại