Máy đo nhiễu xạ tia X AL-Y3000

● Sự kết hợp hoàn hảo giữa hệ thống phần cứng và phần mềm đáp ứng nhu cầu của các học giả và nhà nghiên cứu trong các lĩnh vực ứng dụng khác nhau

● Hệ thống đo góc nhiễu xạ có độ chính xác cao để thu được kết quả đo chính xác hơn

● Hệ thống điều khiển máy phát tia X có độ ổn định cao, đạt được độ chính xác đo lặp lại ổn định hơn

● Thăm dò được lập trình, thiết kế cấu trúc tích hợp, vận hành dễ dàng và hình thức dụng cụ thẩm mỹ hơn

Máy đo nhiễu xạ tia X là một công cụ kiểm tra phổ quát giúp tiết lộ cấu trúc tinh thể và thông tin hóa học của vật liệu.

●Xác định một hoặc nhiều pha trong các mẫu chưa biết

●Phân tích định lượng các pha đã biết trong các mẫu hỗn hợp

●Phân tích cấu trúc tinh thể

●Phân tích kết cấu và ứng suất của vật liệu kim loại

Máy đo nhiễu xạ tia X có thể phân tích các vật liệu vô cơ hoặc hữu cơ tổng hợp tự nhiên hoặc nhân tạo và được sử dụng rộng rãi trong các lĩnh vực nghiên cứu như khoáng sét, vật liệu xây dựng xi măng, bụi môi trường, sản phẩm hóa học, dược phẩm, amiăng, khoáng chất đá, polyme, v.v.

●Dựa trên θ-θ Thiết kế quang học hình học tạo điều kiện thuận lợi cho việc chuẩn bị mẫu và lắp đặt các phụ kiện khác nhau

●Việc ứng dụng ống tia X bằng gốm kim loại giúp cải thiện đáng kể khả năng hoạt động của máy nhiễu xạ

●Bộ đếm tỷ lệ đóng, bền và không cần bảo trì

●Máy dò trôi silicon có độ phân giải góc và độ phân giải năng lượng vượt trội, tốc độ đo tăng hơn ba lần

●Phụ kiện máy đo nhiễu xạ phong phú để đáp ứng nhu cầu của các mục đích phân tích khác nhau

●Tự động nhận dạng các phụ kiện chức năng khác nhau của máy đo nhiễu xạ

●Thiết kế mô-đun, còn được gọi là thành phần cắm và chạy, cho phép người vận hành sử dụng chính xác các phụ kiện tương ứng của máy đo nhiễu xạ mà không cần hiệu chỉnh hệ thống quang học