Máy quang phổ huỳnh quang tia X

Sử dụng công nghệ phân tích huỳnh quang tia X tán sắc năng lượng, máy quang phổ Xrf AL-NP-5010A có khả năng đo đồng thời nhiều nguyên tố khác nhau trong chất. Máy phân tích kim loại Xrf có thể được cấu hình để đo nhiều nguyên tố bất kỳ từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng. Máy quang phổ edxrf có thể được sử dụng rộng rãi trong bảo vệ môi trường, khảo cổ học, vật liệu xây dựng, chỉ thị RoHS và các ngành công nghiệp khác. Edxrf Spectrometer là lựa chọn kiểm soát chất lượng lý tưởng cho doanh nghiệp.

Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng (WDXRF) là sản phẩm công nghệ cao được phát triển bởi công ty chúng tôi dựa trên kinh nghiệm và thành quả của hoạt động R&D trong nước trên các thiết bị tương tự trong nhiều năm và tiếp thu công nghệ tiên tiến quốc tế, Các chỉ số hiệu suất kỹ thuật đã đạt đến mức độ của các sản phẩm tương tự quốc tế.
Máy phân tích xrf cũng được sử dụng trong các trường đại học và viện nghiên cứu.

Máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang tia X là thiết bị phân tích sử dụng công nghệ phân tích huỳnh quang tia X phân tán năng lượng để đo đồng thời nhiều nguyên tố. Nó có thể được cấu hình để phân tích và xác định số lượng phần tử bất kỳ từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng.

Sử dụng công nghệ phân tích Xrf huỳnh quang tia X di động, huỳnh quang tia X có khả năng đo đồng thời nhiều nguyên tố khác nhau trong chất. Xrf di động có thể được cấu hình để đo nhiều phần tử bất kỳ từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng. Phân tích xrf có thể được sử dụng rộng rãi trong bảo vệ môi trường, khảo cổ học, vật liệu xây dựng, chỉ thị RoHS và các ngành công nghiệp khác. Xrf di động là sự lựa chọn lý tưởng để kiểm soát chất lượng cho doanh nghiệp.

Máy phân tích huỳnh quang tia X phân tán bước sóng là một sản phẩm công nghệ cao do công ty chúng tôi phát triển, tổng hợp kinh nghiệm và bài học rút ra từ quá trình phát triển loại thiết bị này ở Trung Quốc trong những năm qua, đồng thời tiếp thu và tham khảo các công nghệ quốc tế tiên tiến. Thông qua nghiên cứu và phát triển công nghiệp chuyên sâu, tất cả các chỉ số hiệu suất kỹ thuật đã đạt đến mức tương đương với các sản phẩm quốc tế.

Máy quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) là phương pháp phân tích phổ quát tiên tiến để xác định nguyên tố của các vật liệu khác nhau.
Bộ phân tích XRF được đặc trưng bởi việc chuẩn bị mẫu đơn giản, phạm vi đo rộng, độ chính xác cao, độ tái lập tốt, tốc độ đo nhanh (30 giây đến 900 giây), không gây ô nhiễm môi trường và không làm hỏng mẫu.