trang bị máy

Máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang tia X là thiết bị phân tích sử dụng công nghệ phân tích huỳnh quang tia X phân tán năng lượng để đo đồng thời nhiều nguyên tố. Nó có thể được cấu hình để phân tích và xác định số lượng phần tử bất kỳ từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng.

Thiết kế kiến ​​trúc hệ thống đơn giản và nhỏ gọn, là tập hợp các hệ thống CT công nghiệp tia X có độ phân giải cao với cấu hình linh hoạt và có thể đáp ứng các nhu cầu phát hiện khác nhau. Nó có đặc điểm là độ phân giải hình ảnh cao, tốc độ quét nhanh, chức năng phong phú, vận hành dễ dàng, vận hành ổn định và chi phí sử dụng và bảo trì thấp.

Sử dụng công nghệ phân tích Xrf huỳnh quang tia X di động, huỳnh quang tia X có khả năng đo đồng thời nhiều nguyên tố khác nhau trong chất. Xrf di động có thể được cấu hình để đo nhiều phần tử bất kỳ từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng. Phân tích xrf có thể được sử dụng rộng rãi trong bảo vệ môi trường, khảo cổ học, vật liệu xây dựng, chỉ thị RoHS và các ngành công nghiệp khác. Xrf di động là sự lựa chọn lý tưởng để kiểm soát chất lượng cho doanh nghiệp.

Hệ thống chụp cắt lớp vi tính công nghiệp bao gồm nguồn tia X tần số cao và điện áp không đổi, máy dò màn hình phẳng kỹ thuật số và bàn kiểm tra cơ học có độ chính xác cao. Hệ thống CT Công nghiệp không chỉ hiển thị chip CT và hình ảnh 3D của đối tượng được kiểm tra mà còn có khả năng kiểm tra hình ảnh 2D theo thời gian thực. Vì vậy, chụp X quang công nghiệp CT được sử dụng rộng rãi để kiểm tra và đo lường NDT trong ngành hàng không vũ trụ, hàng không quân sự, máy móc, đúc, CNTT, lĩnh vực ô tô, v.v.

Máy phân tích huỳnh quang tia X phân tán bước sóng là một sản phẩm công nghệ cao do công ty chúng tôi phát triển, tổng hợp kinh nghiệm và bài học rút ra từ quá trình phát triển loại thiết bị này ở Trung Quốc trong những năm qua, đồng thời tiếp thu và tham khảo các công nghệ quốc tế tiên tiến. Thông qua nghiên cứu và phát triển công nghiệp chuyên sâu, tất cả các chỉ số hiệu suất kỹ thuật đã đạt đến mức tương đương với các sản phẩm quốc tế.

Máy quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) là phương pháp phân tích phổ quát tiên tiến để xác định nguyên tố của các vật liệu khác nhau. Bộ phân tích XRF được đặc trưng bởi việc chuẩn bị mẫu đơn giản, phạm vi đo rộng, độ chính xác cao, độ tái lập tốt, tốc độ đo nhanh (30 giây đến 900 giây), không gây ô nhiễm môi trường và không làm hỏng mẫu.

Hệ thống X-Ray của trình thu thập thông tin đường ống áp dụng hệ thống kiểm soát dòng ống không đổi được thiết kế độc lập của công ty chúng tôi, giải quyết hoàn toàn các vấn đề về giảm năng lượng pin và độ phân giải kém của phim của trình thu thập thông tin kiểm tra đường ống truyền thống.

Máy đo nhiễu xạ AL-Y3000 được thiết kế để nghiên cứu vật liệu và phân tích sản phẩm công nghiệp và là sản phẩm toàn diện kết hợp phân tích thông thường với các phép đo cho mục đích đặc biệt.

Máy đo nhiễu xạ AL-Y500 là máy đo nhiễu xạ tia X để bàn hai chiều mới nhất được ra mắt bởi Tập đoàn Aolong. Nó sử dụng một máy dò cố định để chụp ảnh, khác với máy đo nhiễu xạ quét truyền thống. Máy dò bán dẫn đếm photon mảng tia X có các chế độ tương thích điểm, đường và mặt phẳng 0D, 1D và 2D;