tia x

1. Hệ thống kiểm tra PCB bằng tia X sử dụng công nghệ hình ảnh kỹ thuật số tia X tiên tiến để phát hiện rõ ràng ngay cả những khuyết tật nhỏ trong các vật đúc nhẹ. 2. Hệ thống kiểm tra PCB bằng tia X cho phép kiểm tra trực tuyến theo thời gian thực, xác định vấn đề kịp thời và giảm nguy cơ hủy lô hàng. 3. Hệ thống kiểm tra PCB bằng tia X có thuật toán nhận dạng lỗi tự động tích hợp và khả năng truy xuất dữ liệu, giúp cải thiện hiệu quả kiểm tra.

1. Hệ thống kiểm tra PCB được áp dụng cho BGA/CSP và chip lật, mối hàn PCB, các loại pin, đóng gói IC, điện dung và điện trở, khuyết tật bên trong của vật liệu kim loại và vật liệu điện môi, v.v. 2. Hệ thống kiểm tra tia X là sản phẩm công nghệ cao tích hợp công nghệ phần mềm máy tính hiện đại, công nghệ cơ khí chính xác, công nghệ quang học, công nghệ điện tử.

1. Hệ thống kiểm tra X-quang phát hiện vật đúc kỹ thuật số của Aolong đạt độ phân giải ở cấp độ micron, phát hiện các khuyết tật mà mắt thường không nhìn thấy được. 2. Hệ thống kiểm tra X-quang phát hiện vật đúc kỹ thuật số của Aolong sử dụng hình ảnh thời gian thực và phân tích tự động, mang lại tốc độ kiểm tra nhanh chóng. 3. Hệ thống kiểm tra X-quang phát hiện vật đúc kỹ thuật số của Aolong không phá hủy và không ảnh hưởng đến hiệu suất của vật đúc.

Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng (WDXRF) là sản phẩm công nghệ cao được phát triển bởi công ty chúng tôi dựa trên kinh nghiệm và thành quả của hoạt động R&D trong nước trên các thiết bị tương tự trong nhiều năm và tiếp thu công nghệ tiên tiến quốc tế, Các chỉ số hiệu suất kỹ thuật đã đạt đến mức độ của các sản phẩm tương tự quốc tế. Máy phân tích xrf cũng được sử dụng trong các trường đại học và viện nghiên cứu.

Máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang tia X là thiết bị phân tích sử dụng công nghệ phân tích huỳnh quang tia X phân tán năng lượng để đo đồng thời nhiều nguyên tố. Nó có thể được cấu hình để phân tích và xác định số lượng phần tử bất kỳ từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng.

Thử nghiệm chụp ảnh phóng xạ NDT công nghiệp RT được thiết kế đặc biệt để phân tích lõi. Tùy theo chiều dài và đường kính của lõi, khoảng cách giữa nguồn tia X và máy dò có thể được điều chỉnh để có kết quả hình ảnh tốt nhất. Thử nghiệm chụp ảnh X quang NDT công nghiệp RT bằng bàn làm việc xoay (với thùng nhựa hoặc Al), người dùng có thể lấy hình ảnh 3D bên trong của lõi, hình ảnh X-quang 2D hoặc 3D có thể cung cấp dữ liệu bên trong lõi rất có giá trị, dữ liệu coula pe useu oI Uvavah lgcore chất lượng hoặc thực hiện nghiên cứu sâu hơn.

Sử dụng công nghệ phân tích Xrf huỳnh quang tia X di động, huỳnh quang tia X có khả năng đo đồng thời nhiều nguyên tố khác nhau trong chất. Xrf di động có thể được cấu hình để đo nhiều phần tử bất kỳ từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng. Phân tích xrf có thể được sử dụng rộng rãi trong bảo vệ môi trường, khảo cổ học, vật liệu xây dựng, chỉ thị RoHS và các ngành công nghiệp khác. Xrf di động là sự lựa chọn lý tưởng để kiểm soát chất lượng cho doanh nghiệp.

Máy phân tích huỳnh quang tia X phân tán bước sóng là một sản phẩm công nghệ cao do công ty chúng tôi phát triển, tổng hợp kinh nghiệm và bài học rút ra từ quá trình phát triển loại thiết bị này ở Trung Quốc trong những năm qua, đồng thời tiếp thu và tham khảo các công nghệ quốc tế tiên tiến. Thông qua nghiên cứu và phát triển công nghiệp chuyên sâu, tất cả các chỉ số hiệu suất kỹ thuật đã đạt đến mức tương đương với các sản phẩm quốc tế.

Máy quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) là phương pháp phân tích phổ quát tiên tiến để xác định nguyên tố của các vật liệu khác nhau. Bộ phân tích XRF được đặc trưng bởi việc chuẩn bị mẫu đơn giản, phạm vi đo rộng, độ chính xác cao, độ tái lập tốt, tốc độ đo nhanh (30 giây đến 900 giây), không gây ô nhiễm môi trường và không làm hỏng mẫu.