Phát hiện lỗi bên trong của pin nguồn mềm
Các khuyết tật bên trong của pin điện mềm chủ yếu bao gồm: chất lượng gia cố kém, vật lạ trong cell pin, bọt khí, liên kết kém, khoảng cách giữa các gia cố không đều, độ dẫn điện kém và các vấn đề khác. Nếu những khuyết tật này không được phát hiện kịp thời, chúng sẽ gây ra rủi ro lớn cho việc sử dụng pin, thậm chí dẫn đến hỏng pin, do đó ảnh hưởng đến sự an toàn khi lái xe.
Hiện nay có một số phương pháp để phát hiện các lỗi bên trong pin nguồn mềm, bao gồm:
1. Phương pháp tích điện âm dương: Pin đã tích điện được phân hủy và đưa vào kiểm tra quang học, đồng thời quan sát và ghi lại hư hỏng ở điện cực và bộ tách của pin thông qua kính hiển vi quang học.
2. Phương pháp vi sóng: Phát hiện vi sóng được thực hiện trên các bộ tách, chất điện phân và điện cực vì các vật liệu khác nhau có khả năng phản xạ và hấp thụ vi sóng khác nhau, có thể phát hiện ra các khuyết tật và lỗi bên trong pin.
3. Phương pháp chụp cộng hưởng từ: Với sự trợ giúp của công nghệ chụp cộng hưởng từ hạt nhân, cấu trúc bên trong và phản ứng hóa học của pin có thể được chụp ảnh chính xác, đồng thời phát hiện ra nhiều khuyết tật tiềm ẩn khác nhau.
4. Phương pháp phát hiện tia X: Công nghệ hình ảnh truyền tia X có thể quan sát trực tiếp cấu trúc và thành phần bên trong pin, phát hiện ra các khuyết tật ẩn. Và sau nhiều nghiên cứu, đã chứng minh rằng công nghệ hình ảnh truyền tia X là phương pháp đáng tin cậy và không phá hủy để phát hiện các khuyết tật bên trong.
Trong bốn phương pháp nêu trên, phát hiện bằng tia X là phương pháp phổ biến và được ưa chuộng nhất vì nó có thể quét trực tiếp pin nguồn mềm qua vật liệu đóng gói, nhanh chóng và chính xác xác định các khiếm khuyết khác nhau bên trong pin.
Với sự cải tiến liên tục của công nghệ phát hiện, việc phát hiện các khuyết tật bên trong pin năng lượng mềm cũng đáng tin cậy và hiệu quả hơn. Tuy nhiên, vấn đề chất lượng pin năng lượng mềm vẫn là nút thắt cổ chai đối với xe năng lượng mới, đòi hỏi các nhà sản xuất và cơ quan thử nghiệm phải hợp tác để giải quyết và bảo vệ sự phát triển của xe năng lượng mới.
Tóm lại, phát hiện lỗi bên trong của ắc quy mềm là mắt xích quan trọng trong việc đảm bảo chất lượng ắc quy và lái xe an toàn cho xe năng lượng mới. Ứng dụng công nghệ phát hiện tia X trong lĩnh vực phát hiện lỗi bên trong ắc quy đã được công nhận rộng rãi do những ưu điểm không phá hủy, hiệu quả và chính xác của nó. Chúng tôi tin rằng với sự tiến bộ của công nghệ, việc phát hiện lỗi bên trong ắc quy mềm sẽ ngày càng tinh vi hơn, truyền năng lượng mới vào quá trình phát triển xe năng lượng mới.
