Nguyên lý hình ảnh X-quang DR
Hệ thống DR thường bao gồm nguồn tia X, đối tượng được thử nghiệm, máy dò màn hình phẳng, máy trạm hình ảnh, v.v.
Đối với công nghệ phát hiện DR, thành phần cốt lõi của nó là máy dò. Hiện nay có một loại đầu dò dùng trong kỹ thuật là đầu dò tấm phẳng silicon vô định hình.
Máy dò tấm phẳng silicon vô định hình áp dụng công nghệ tích hợp quy mô lớn, tích hợp một mảng cảm biến silicon vô định hình diện tích lớn và chất nhấp nháy cesium iodide, có thể chuyển đổi trực tiếp các photon X thành các electron và cuối cùng chuyển đổi chúng thành tín hiệu số thông qua bộ chuyển đổi tương tự kỹ thuật số (ADC). Máy dò phẳng có các đặc điểm của dải động lớn và độ phân giải không gian cao, có thể nhận ra phát hiện DR tốc độ cao và đã trở thành xu hướng phát triển công nghệ phát hiện DR công nghiệp.
Tia X do nguồn tia X tạo ra tạo thành cường độ trường tới, được làm suy giảm bởi mẫu thử để thu được cường độ trường truyền, sau đó cường độ trường truyền tác động lên máy dò để cuối cùng xuất ra hình ảnh. Khi tia X có cường độ trường tới chiếu vào mẫu thử, các photon tia X tương tác với các nguyên tử vật chất của mẫu thử, bao gồm hiệu ứng quang điện, hiệu ứng compton và tán xạ kết hợp. Kết quả cuối cùng của những tương tác này là một phần photon tia X bị hấp thụ hoặc tán xạ, tức là photon tia X bị suy giảm khi đi qua vật liệu. Quá trình suy giảm thực tế có liên quan đến năng lượng tia X, mật độ vật chất và hệ số nguyên tử.
