Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng
Sử dụng công nghệ phân tích huỳnh quang tia X phân tán năng lượng, AL-NP-5010A có khả năng đo đồng thời nhiều nguyên tố khác nhau trong chất. Nó có thể được cấu hình để đo nhiều phần tử từ Na đến U theo yêu cầu ứng dụng của người dùng.
Thiết bị này có thể được sử dụng rộng rãi trong bảo vệ môi trường, khảo cổ học, vật liệu xây dựng, chỉ thị RoHS và các ngành công nghiệp khác. Đây là sự lựa chọn lý tưởng về kiểm soát chất lượng cho doanh nghiệp.
Quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) là phương pháp phân tích phổ quát tiên tiến để xác định nguyên tố của các vật liệu khác nhau. Phân tích định tính, định lượng và phi tiêu chuẩn chính xác có thể được thực hiện trên hầu hết tất cả các nguyên tố trong bảng tuần hoàn, từ berili (Be4) đến uranium (U92) cho dù đó là mẫu khối, bột hay chất lỏng. Theo các yêu cầu ứng dụng khác nhau, nồng độ phân tích dao động từ 0,1 PPM đến 100% và thậm chí nồng độ của các nguyên tố lên tới 100% có thể được xác định trực tiếp mà không cần pha loãng. Phân tích XRF được đặc trưng bởi việc chuẩn bị mẫu đơn giản, phạm vi đo rộng
XRF được sử dụng rộng rãi trong lĩnh vực bảo vệ môi trường
địa chất, khoáng sản, luyện kim, xi măng, điện tử, hóa dầu, polymer, thực phẩm, y học và vật liệu công nghệ cao. Nó đóng một vai trò quan trọng trong nghiên cứu và phát triển sản phẩm, giám sát quá trình sản xuất và chất lượng
